Integrated Circuit Failure Analysis: A Guide to Preparation Techniques
| AUTHOR | Beck, Friedrich; Beck |
| PUBLISHER | Wiley (02/04/1998) |
| PRODUCT TYPE | Hardcover (Hardcover) |
Description
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.
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Product Format
Product Details
ISBN-13:
9780471974017
ISBN-10:
0471974013
Binding:
Hardback or Cased Book (Sewn)
Content Language:
English
More Product Details
Page Count:
192
Carton Quantity:
30
Product Dimensions:
6.15 x 0.60 x 9.35 inches
Weight:
0.96 pound(s)
Country of Origin:
GB
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | Electronics - Circuits - General
Technology & Engineering | Electrical
Dewey Decimal:
621.381
Library of Congress Control Number:
97011255
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Funktionstests an integrierten Schaltungen sind für deren Zuverlässigkeit von herausragender Bedeutung. Erstmals werden in diesem Werk die speziellen Präparationstechniken für die Fehleranalyse beschrieben. Ausgehend von den theoretischen Grundlagen erläutert der Autor in praxisnahem Stil die verschiedenen Techniken, die das Zurückverfolgen von Ausfällen ermöglichen.
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