In-Situ Electron Microscopy: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
| PUBLISHER | Wiley-Vch (05/29/2012) |
| PRODUCT TYPE | Hardcover (Hardcover) |
Description
Von den Grundlagen ber das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phnomenen bis hinunter zum Nanoma stab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen berblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; au erdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.
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Product Format
Product Details
ISBN-13:
9783527319732
ISBN-10:
3527319735
Binding:
Hardback or Cased Book (Sewn)
Content Language:
English
More Product Details
Page Count:
402
Carton Quantity:
16
Product Dimensions:
6.90 x 0.90 x 9.60 inches
Weight:
2.00 pound(s)
Country of Origin:
DE
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | Materials Science - General
Dewey Decimal:
502.825
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Von den Grundlagen ber das Experiment bis zur Anwendung zeigt dieses Buch, wie sich Ionenstrahlanlagen, Rasterelektronenmikroskope und Transmissionselektronenmikroskope zur Beobachtung von Phnomenen bis hinunter zum Nanoma stab in Echtzeit einsetzen lassen. Nach einem theoretischen berblick werden experimentelle Verfahren zur Untersuchung von Aufwachsprozessen, Schmelzen, chemischen Reaktionen und Dotierung besprochen; au erdem geht es um die Messung mechanischer, magnetischer, optischer und elektronischer Kenndaten. Der letzte Abschnitt widmet sich Fragen der Soft-Matter-Charakterisierung.
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Editor:
Howe, James M.
JAMES M. HOWE, PhD, is Associate Professor of Materials Science and Engineering at the University of Virginia. He is the recipient of numerous honors and awards for his research on transformation interfaces and electron microscopy, and his articles have appeared in such journals as Philosophical Magazine A, Acta Metallurgica et Materialia, and Ultramicroscopy.
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