Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials: Instrumentation, Data Analysis, and Applications
| AUTHOR | Wee, Andrew Thye Shen; Wee, Andrew Thye Shen; Wee, Andrew Thye Shen et al. |
| PUBLISHER | Wiley-Vch (04/11/2022) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
Dieses Buch ist eine aktualisierte Einführung in die Anwendung der spektrometrischen Ellipsometrie mit ihrem praktischen Einsatz bei der Untersuchung von Grenzflächeneigenschaften, Elektronenstrukturen und Quasiteilcheneigenschaften verschiedener Klassen von Dünnschichtmaterialien.
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Product Format
Product Details
ISBN-13:
9783527349517
ISBN-10:
3527349510
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
English
More Product Details
Page Count:
208
Carton Quantity:
20
Product Dimensions:
6.69 x 0.44 x 9.61 inches
Weight:
0.75 pound(s)
Country of Origin:
DE
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | Materials Science - General
Technology & Engineering | Spectroscopy & Spectrum Analysis
Technology & Engineering | Chemistry - Physical & Theoretical
Descriptions, Reviews, Etc.
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