Mit dem Einzug der Mikroelektronik in fast aile Bereiche des taglichen Lebens muB die altbekannte Tatsache, daB samtliche elektronische Systeme Fehler aufweisen kcxmen starker berucksichtigt werden. Dos Zuverlassigkeitsproblem ist dabei n icht nur bei Ge- raten der Luft- und Raumfahrt, bei Uberwachungen von Kraftwerken, Steuerungen von Signalanlagen und tlhnl ichen Anwendungen relevant, wo bei einem Versagen Men- schenleben gefahrdet sind, sondern ouch bei der ProzeBsteuerung oder NachrichtenUber- mittlung, wo technische Unzuverltlssigkeiten zu betrachtlichen wirtschaftlichen Aus- wirkungen fuhren kcsnnen. Nachdem die erste Euphorie Uber das neue Bauelement "Mikroprozessor" abgeklungen ist, haben viele Entwickler die enttauschende Erfahrung gemacht, daB die Mikroprozes- sorsysteme doch haufiger ausfallen 015 erwartet. Diese Beobachtungen haben im wesent- lichen zwei Ursachen: Zum einen bewirken Bauelementfehler oder Fehler, die durch unsachgemaBen Aufbau ver- ursacht wurden zumeist den Totalausfall des Mikrocomputers, ouch donn, wenn der Fehler nur kurzzeitig aufgetreten ist. Dos erklClrt sich aus der Tatsache, daB StCSrungen auf den AdreB-, Daten- oder Steuerleitungen zu Fehlinterpretationen des Mikroprozessors fuhren und somit die richtige Ablauffolge der Befehle gestCSrt wird, wenn keine besonderen Schutz- maBnahmen dagegen getroffen werden. 1m Vergleich dazu fuhren einzelne Fehler in dis- kret aufgebauten Logiksystemen oftmals nur zu einem lokal begrenzten Fehlverhalten, was somit die FunktionsfClhigkeit des Gesamtsystems nicht entscheidend beeintrachtigt, zu- mal das System bei kurzzeitig auftretenden StCSrungen meist in der gewUnschten Weise wei- terarbeitet. So bemerkt z. B.