Les travaux pr sent s dans ce manuscrit sont ax s sur le d veloppement d'une nouvelle technique de caract risation bas e sur la variation de la r ponse d'un r sonateur, r ponse modifi e par les propri t s di lectriques d'un mat riau sous test. La technique propos e utilise la microscopie microonde en champ proche pour la caract risation r sonante et non destructive de mat riaux di lectriques dans la bande ISM (2,45 GHz). Celle-ci permet de d terminer les propri t s lectromagn tiques (permittivit relative, tangente de pertes) des chantillons di lectriques solides de faible volume par rapport la longueur d'onde de mesure, et cela sans aucun traitement pr alable. La connaissance de ces param tres est essentielle pour fournir des informations critiques n cessaires pour la conception, la mod lisation et la fabrication de circuits microondes.