Les mat riaux semi-conducteurs sont tr s utilis s, notamment dans le domaine de l' lectronique. Pourtant leur fonctionnement intime reste mal connu du fait du manque de techniques de mesures directes de leur distributions de charges. Les distributions de charges, qui sont la base des propri t s lectriques du mat riau, sont en effet encore d termin es l'aide de mod les et de mesures lectriques globales ou destructives. Ainsi les nouveaux mat riaux, sans mod le prouv , sont difficiles analyser. L'utilisation d'un couplage lasto- lectrique local permettrait de palier ce probl me et ainsi de faciliter l'analyse des nouveaux mat riaux pour la micro- lectronique. Ce couplage agit en effet directement sur les charges mesurer de mani re non destructive. Dans ce livre le couplage lasto- lectrique est mod lis dans des structures semi-conducteurs et des m taux. Le signal induit par la propagation d'une onde lastique est calcul analytiquement ou num riquement selon la situation de la structure test e. Les r sultats analytiques et num riques sont valid s par des mesures exp rimentales appliqu es diff rentes structures en variant les param tres de mesure.