Dans la fabrication d'un produit, la ma trise des propri t s physiques des mat riaux utilis s est indispensable. La d termination de ces propri t s passe en g n ral par le biais d'autres propri t s interm diaires telles que les propri t s lectromagn tiques. A cet effet, nous avons mis au point une technique de caract risation sans contact de mat riaux non transparents, en transposant les concepts de base de l'ellipsom trie optique en hyperfr quence. La caract risation se fait par r solution d'un probl me inverse par deux m thodes num riques: une m thode d'optimisation classique utilisant l'algorithme it ratif de Levenberg Marquardt et une m thode de r gression par l'utilisation de r seaux de neurones de type perceptron multicouches. Avec la premi re m thode, on d termine deux param tres de l' chantillon savoir les indices de r fraction et d'extinction. Avec la deuxi me, on d termine les deux indices ainsi que l' paisseur de l' chantillon. Pour la validation, nous avons mont un banc exp rimental en espace libre 30 GHz, en transmission et en incidence oblique, avec lequel nous avons effectu des mesures sur du t flon et d' poxy d' paisseurs allant de 1 30 mm.