De nouvelles architectures nomm es CRF (Coupled Resonator Filter) font appel des r sonateurs ondes de volume (BAW) mais aussi des structures utilisant d'autres couplages acoustiques. L'objectif du travail propos est de mod liser ces structures pour obtenir des mod les de type circuit lectrique. Ces mod les seront valid s par des mesures sur les BAW et les CRF r alis s par nos partenaires ST Microelectronics et CEA-LETI. La premi re partie des tudes portait sur le comportement RF sous faible et forte puissances, suivi du d veloppement d'un mod le large bande simul sous ADS d crivant leur comportement lin aire et nonlin aire. La seconde partie de la th se est orient e vers le d veloppement d'une nouvelle m thode de test pseudo-temporelle des filtres RF qui consiste mesurer directement leur impact sur un signal num rique gr ce au param tre EVM (Error Vector Magnitude). Ce param tre est reli au BER et nos travaux montrent qu'il permet galement de retrouver en partie les param tres S et d tecter les filtres d faillants partir d'une seule mesure. Cette nouvelle technique permet de r duire le temps et le co t de test des fins industrielles.