Aujourd'hui les syst mes embarqu s sont partout et requi rent de plus en plus de puissance de calcul. Pour cela, ces derni res ann es, les progr s d'int gration ont permis de diminuer la taille des transistors, d'augmenter la fr quence de fonctionnement et de diminuer la tension d'alimentation. Tout cela en augmentant progressivement le nombre de processeurs dans une m me puce. Cependant, cette volution a un impact n gatif sur la fiabilit en causant l'apparition pr matur e de fautes intermittentes. N anmoins, concernant ce type de fautes nous ne b n ficions pas d' tudes exp rimentales d taill es. Or, pour tenter de s'en pr munir, il est important de comprendre leur comportement ainsi que leur impact sur le syst me et les applications. Notre tude confirme qu'il est possible d'observer des erreurs intermittentes tr s t t avant la p riode d'usure du circuit. Il est donc possible de les d tecter en ligne. Pour cela, nous avons d velopp une m thode de test p riodique adapt e la fois aux erreurs intermittentes et aux architectures multiprocesseur.