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Fiabilité fonctionnelle des triacs soumis aux chocs thermiques di/dt

AUTHOR Forster-S
PUBLISHER Univ Europeenne (02/28/2018)
PRODUCT TYPE Paperback (Paperback)

Description
Les TRIACs sont des interrupteurs bidirectionnels en courant et tension, g n ralement prot g s des parasites du secteur (dV/dt) par un CALC. Ce circuit de protection provoque la fermeture des TRIACs une forte contrainte lectrique (di/dt), responsable de la d gradation pr matur e des composants. L'auteur tudie les effets thermo lectriques et thermom caniques de la fermeture des TRIACs sous fort di/dt par l'interm diaire de simulations transitoires ISE et de l'analyse de d faillance. Le m canisme de d gradation est caract ris par la formation de points chauds dans la structure (choc thermique par di/dt) qui induisent des forces m caniques de tension dans la puce. A chaque cycle de commutation, ces contraintes m caniques d veloppent les d fauts initiaux en micro-fissures soit dans le volume du silicium, soit l'interface avec le contact m tallique. L'analyse statistique de cette fatigue thermique des TRIACs montre que les composants d faillent en suivant une distribution de Weibull. Une loi d'extrapolation de la dur e de vie, obtenue th oriquement par les m canismes de d gradation, est valid e par les tests acc l r s de fiabilit .
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Product Format
Product Details
ISBN-13: 9786131535819
ISBN-10: 6131535817
Binding: Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language: French
More Product Details
Page Count: 280
Carton Quantity: 30
Product Dimensions: 6.00 x 0.63 x 9.00 inches
Weight: 0.91 pound(s)
Country of Origin: FR
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | Electronics - General
Technology & Engineering | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Les TRIACs sont des interrupteurs bidirectionnels en courant et tension, g n ralement prot g s des parasites du secteur (dV/dt) par un CALC. Ce circuit de protection provoque la fermeture des TRIACs une forte contrainte lectrique (di/dt), responsable de la d gradation pr matur e des composants. L'auteur tudie les effets thermo lectriques et thermom caniques de la fermeture des TRIACs sous fort di/dt par l'interm diaire de simulations transitoires ISE et de l'analyse de d faillance. Le m canisme de d gradation est caract ris par la formation de points chauds dans la structure (choc thermique par di/dt) qui induisent des forces m caniques de tension dans la puce. A chaque cycle de commutation, ces contraintes m caniques d veloppent les d fauts initiaux en micro-fissures soit dans le volume du silicium, soit l'interface avec le contact m tallique. L'analyse statistique de cette fatigue thermique des TRIACs montre que les composants d faillent en suivant une distribution de Weibull. Une loi d'extrapolation de la dur e de vie, obtenue th oriquement par les m canismes de d gradation, est valid e par les tests acc l r s de fiabilit .
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