Avec l' mergence d'applications millim triques telles que le radar automobile ou le WHDMI, la fiabilit est devenue un enjeu extr mement important pour l'industrie. Dans un metteur/r cepteur radio, les probl mes de fiabilit concernent principalement les transistors MOS int gr s dans les amplificateurs de puissance, compte-tenu des niveaux relativement lev des puissances. Ce livre concerne la conception et l' tude de la fiabilit des amplificateurs de puissance fonctionnant aux fr quences millim triques en technologies CMOS avanc es. Le m moire est articul autour de quatre chapitres. Les deux premiers chapitres concernent l' tude, la conception, la mod lisation et la caract risation des l ments actifs et passifs int gr s sur silicium et utilis s pour r aliser des amplificateurs de puissance aux fr quences millim triques. Le 3 me chapitre d crit les trois amplificateurs de puissance con us et r alis s pour les tests de fiabilit . Enfin, le dernier chapitre propose une tude compl te de la fiabilit de ces circuits jusqu'au calcul de leur temps de vie