L' volution de la concurrence industrielle n cessite de pr voir des niveaux de fiabilit de plus en plus rapidement, ce qui conduit effectuer des essais dits "de dur es de vie acc l r s," habituellement nomm s ALT (pour Accelerated Life Testing). Il s'agit de soumettre un chantillon des niveaux de sollicitation sup rieurs celui pour lequel le produit a t con u (niveau nominal) et extrapoler ce niveau nominal les distributions de dur es de vie obtenues aux niveaux s v ris s. Le probl me est qu'en phase de conception, on ne dispose habituellement que d'un nombre r duit de sp cimens, que l'on ne conna t pas encore de mod le de vie acc l r , et qu'il faut pouvoir modifier la conception sans devoir r it rer de longues campagnes de tests. C'est ces imp ratifs sp cifiques la p riode de conception que le pr sent ouvrage propose de r pondre.