Cette tude porte sur l'application d'une technique de mesure optique sans contact physique pour la caract risation de la d formation m canique induite des isolants organiques solides au cours de l'application d'un champ lectrique. Des films (PEN) de diff rents degr s de cristallinit ont t soumis un fort champ lectrique constante jusqu'au claquage lectrique. Cette technique non destructive bas e sur le suivi de quatre marqueurs a t utilis e. Elle donne acc s la loi de comportement et la relation entre la r ponse lectrom canique et la mise en vidence d'une zone faible d tect e sur la surface de l' chantillon situ e au centre du claquage film .Les courbes obtenues sont d pendantes des conditions exp rimentales, de la morphologie et de la microstructure des films PEN test s.Les r sultats montrent que la d formation induite diminue quand le pourcentage decristallinit augmente, ainsi que la rigidit di lectrique que peut atteindre le film PEN avant le claquage lectrique. De plus cette tude nous a permis de valider des m canismes qui ont t consid r s comme les pr curseurs du claquage lectrique et les ph nom nes de vieillissement.