????????-?????????? ???&
| AUTHOR | Волошко, С Тіньков, В Васильєв, |
| PUBLISHER | Globeedit (01/11/2022) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
У монографії узагальнено результати багаторічних систематичних досліджень за участі авторів та проаналізовано велику кількість літературних джерел щодо фізичної природи тонкої спектральної структури в області характеристичних втрат енергії первинних електронів в інтервалі 5-1000 еВ, що відображає специфічні поверхневі властивості монокристалічних сплавів, монокристалічного кремнію Si(111) та багатошарових металевих плівок. Розглянуто фізичні основи неруйнівних методів низькоенергетичної електронної спектроскопії для пошарового аналізу фізико-хімічних властивостей нанорозмірної поверхневої області з моношаровим розділенням. Показано, що за допомогою спектроскопії плазмових втрат можна встановити границю поділу поверхня-об'єм у монокристалічних сплавах, а також провести кількісне пошарове дилатометричне дослідження приповерхневої області. Досліджено енергетично залежний поверхневий та об'ємний плазмонний спектр втрат енергії для монокристалу Si(111) в інтервалі
Show More
Product Format
Product Details
ISBN-13:
9786200631268
ISBN-10:
6200631263
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
Ukrainian
More Product Details
Page Count:
184
Carton Quantity:
40
Product Dimensions:
6.00 x 0.42 x 9.00 inches
Weight:
0.61 pound(s)
Country of Origin:
US
Subject Information
BISAC Categories
Science | Physics - General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
У монографії узагальнено результати багаторічних систематичних досліджень за участі авторів та проаналізовано велику кількість літературних джерел щодо фізичної природи тонкої спектральної структури в області характеристичних втрат енергії первинних електронів в інтервалі 5-1000 еВ, що відображає специфічні поверхневі властивості монокристалічних сплавів, монокристалічного кремнію Si(111) та багатошарових металевих плівок. Розглянуто фізичні основи неруйнівних методів низькоенергетичної електронної спектроскопії для пошарового аналізу фізико-хімічних властивостей нанорозмірної поверхневої області з моношаровим розділенням. Показано, що за допомогою спектроскопії плазмових втрат можна встановити границю поділу поверхня-об'єм у монокристалічних сплавах, а також провести кількісне пошарове дилатометричне дослідження приповерхневої області. Досліджено енергетично залежний поверхневий та об'ємний плазмонний спектр втрат енергії для монокристалу Si(111) в інтервалі
Show More
List Price $77.65
Your Price
$76.87
