Cet ouvrage constitue un guide complet sur les notions de base de la diffraction des rayons X (DRX), l'une des techniques non destructives les plus performantes pour l'analyse structurale de la matière, qu'il s'agisse de poudres ou de monocristaux. Le livre s'ouvre sur une présentation des interactions entre rayons X et matière, ainsi que des conditions fondamentales de la diffraction (conditions de Laue, sphère d'Ewald, loi de Bragg). Il aborde ensuite en détail les facteurs de structure, les intensités diffractées et la densité électronique, fournissant les bases nécessaires à l'interprétation des données.Une large part est consacrée aux méthodes de diffraction, qu'il s'agisse des approches sur monocristal (méthode de Laue, cristal tournant, Weissenberg) ou sur poudre (méthode de Debye-Scherrer), avec des explications sur les montages expérimentaux, la collecte et le traitement des données. L'ouvrage met également en lumière l'utilisation de diffractomètres automatiques, la simulation de diffractogrammes et les stratégies d'analyse (identification de phases, quantification, étude microstructurale, détermination de paramètres cristallins).