El estudio que se presenta en este libro est basado en tcnicas interferometricas de corrimiento de fase para el clculo de la fase ptica en objetos transparentes, convencionalmente el corrimiento de fase por etapas en interferometria se realiza usando elementos mecnicos u optoelectronicos anclados al sistema para generar corrimientos por etapas y con ello poder calcular la fase ptica; considerando ello se han analizado las ventajas de usar un interfermetro de Michelson acoplado a un sistema 4-f con rejilla de fase y modulado por polarizacin para estudio de objetos de fase delgada estticos y dinmicos, esto ltimo se logra obteniendo los corrimientos de fase simultneos para procesar la fase ptica, en una sola captura de la cmara. Con el sistema desarrollado se pueden obtener 9 rplicas con intensidades comparables en una sola toma de la cmara, lo que permite extraer fase de distribuciones de fase estticas y variables en el tiempo. Como este sistema se basa en modulacin de polarizacin, est limitado a muestras no birrefringentes o que no cambien el estado de polarizacin del sistema. Proyecto CONACYT A1-S-20925.