Back to Search

Kontekst Analizator WMF/EMF do wyodr?bniania metaplików

AUTHOR Das, Suchitra; Nayak, Monisa; Singh, Shreya
PUBLISHER Wydawnictwo Nasza Wiedza (08/07/2025)
PRODUCT TYPE Paperback (Paperback)

Description
Praca ta skupia si? glównie na kompleksowym omówieniu usterek systemu rozliczeniowego. Z tego powodu technologie i filozofie wykorzystywane do usuwania usterek mog? byc cz?sto stare i sprawdzone, poniewa? s? bardzo niezawodne. Programowanie i analiza tych praktyk zostaly szczególowo omówione w ksi??ce. Ponadto zawiera ona bogaty rozdzial po?wi?cony analizie danych, który jest latwo zrozumialy dla studentów studiów licencjackich i magisterskich.
Show More
Product Format
Product Details
ISBN-13: 9786203006124
ISBN-10: 6203006122
Binding: Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language: Polish
More Product Details
Page Count: 60
Carton Quantity: 118
Product Dimensions: 6.00 x 0.14 x 9.00 inches
Weight: 0.21 pound(s)
Country of Origin: US
Subject Information
BISAC Categories
Computers | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Praca ta skupia si? glównie na kompleksowym omówieniu usterek systemu rozliczeniowego. Z tego powodu technologie i filozofie wykorzystywane do usuwania usterek mog? byc cz?sto stare i sprawdzone, poniewa? s? bardzo niezawodne. Programowanie i analiza tych praktyk zostaly szczególowo omówione w ksi??ce. Ponadto zawiera ona bogaty rozdzial po?wi?cony analizie danych, który jest latwo zrozumialy dla studentów studiów licencjackich i magisterskich.
Show More
List Price $42.00
Your Price  $41.58
Paperback