Kontekst Analizator WMF/EMF do wyodr?bniania metaplików
| AUTHOR | Das, Suchitra; Nayak, Monisa; Singh, Shreya |
| PUBLISHER | Wydawnictwo Nasza Wiedza (08/07/2025) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
Praca ta skupia si? glównie na kompleksowym omówieniu usterek systemu rozliczeniowego. Z tego powodu technologie i filozofie wykorzystywane do usuwania usterek mog? byc cz?sto stare i sprawdzone, poniewa? s? bardzo niezawodne. Programowanie i analiza tych praktyk zostaly szczególowo omówione w ksi??ce. Ponadto zawiera ona bogaty rozdzial po?wi?cony analizie danych, który jest latwo zrozumialy dla studentów studiów licencjackich i magisterskich.
Show More
Product Format
Product Details
ISBN-13:
9786203006124
ISBN-10:
6203006122
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
Polish
More Product Details
Page Count:
60
Carton Quantity:
118
Product Dimensions:
6.00 x 0.14 x 9.00 inches
Weight:
0.21 pound(s)
Country of Origin:
US
Subject Information
BISAC Categories
Computers | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Praca ta skupia si? glównie na kompleksowym omówieniu usterek systemu rozliczeniowego. Z tego powodu technologie i filozofie wykorzystywane do usuwania usterek mog? byc cz?sto stare i sprawdzone, poniewa? s? bardzo niezawodne. Programowanie i analiza tych praktyk zostaly szczególowo omówione w ksi??ce. Ponadto zawiera ona bogaty rozdzial po?wi?cony analizie danych, który jest latwo zrozumialy dla studentów studiów licencjackich i magisterskich.
Show More
List Price $42.00
Your Price
$41.58
