Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica
| AUTHOR | Mishra, Pramita; Dasadiya, Abhay; Solanki, Vanarajsinh |
| PUBLISHER | Edizioni Sapienza (05/05/2022) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.
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Product Format
Product Details
ISBN-13:
9786204698052
ISBN-10:
6204698052
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
Italian
More Product Details
Page Count:
52
Carton Quantity:
136
Product Dimensions:
6.00 x 0.12 x 9.00 inches
Weight:
0.20 pound(s)
Country of Origin:
US
Subject Information
BISAC Categories
Computers | Operating Systems - General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.
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