Analiza metryk projektowania obiektowego
| AUTHOR | Kamra, Ruchi |
| PUBLISHER | Wydawnictwo Nasza Wiedza (05/27/2025) |
| PRODUCT TYPE | Paperback (Paperback) |
Description
Pomiar to proces okre?lania wielko?ci ilo?ciowej i jako?ci produktu. W dziedzinie in?ynierii oprogramowania metryki s? wykorzystywane do celów ilo?ciowych i jako?ciowych. Analizuj?c metryki, programista mo?e skorygowac te obszary procesu tworzenia oprogramowania, które s? przyczyn? wad oprogramowania lub awarii produktu. Metryki oprogramowania s? szeroko stosowane w bran?y oprogramowania do pomiaru zlo?ono?ci, rozmiaru, modulowo?ci, testowalno?ci, u?yteczno?ci, niezawodno?ci lub latwo?ci konserwacji fragmentu kodu ?ródlowego. Zaproponowano wiele ró?nych metryk obiektowych do oceny projektu, jako?ci, testowalno?ci i latwo?ci konserwacji systemu obiektowego. Ró?ni badacze skupiaj? si? na ró?nych wla?ciwo?ciach systemu obiektowego, takich jak enkapsulacja, dziedziczenie, zlo?ono?c i polimorfizm. Projektowanie obiektowe staje si? coraz bardziej popularne w ?rodowisku tworzenia oprogramowania, a metryki projektowania obiektowego s? istotn? cz??ci? ?rodowiska oprogramowania. Niniejsze badanie koncentruje si? na zestawie metryk obiektowych, które mog? byc wykorzystane do pomiaru jako?ci projektu obiektowego, a tak?e analizuje niektóre metryki CK przy u?yciu narz?dzia Understand 2.6.
Show More
Product Format
Product Details
ISBN-13:
9786207833443
ISBN-10:
6207833449
Binding:
Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language:
Polish
More Product Details
Page Count:
56
Carton Quantity:
126
Product Dimensions:
6.00 x 0.13 x 9.00 inches
Weight:
0.19 pound(s)
Country of Origin:
US
Subject Information
BISAC Categories
Computers | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
Pomiar to proces okre?lania wielko?ci ilo?ciowej i jako?ci produktu. W dziedzinie in?ynierii oprogramowania metryki s? wykorzystywane do celów ilo?ciowych i jako?ciowych. Analizuj?c metryki, programista mo?e skorygowac te obszary procesu tworzenia oprogramowania, które s? przyczyn? wad oprogramowania lub awarii produktu. Metryki oprogramowania s? szeroko stosowane w bran?y oprogramowania do pomiaru zlo?ono?ci, rozmiaru, modulowo?ci, testowalno?ci, u?yteczno?ci, niezawodno?ci lub latwo?ci konserwacji fragmentu kodu ?ródlowego. Zaproponowano wiele ró?nych metryk obiektowych do oceny projektu, jako?ci, testowalno?ci i latwo?ci konserwacji systemu obiektowego. Ró?ni badacze skupiaj? si? na ró?nych wla?ciwo?ciach systemu obiektowego, takich jak enkapsulacja, dziedziczenie, zlo?ono?c i polimorfizm. Projektowanie obiektowe staje si? coraz bardziej popularne w ?rodowisku tworzenia oprogramowania, a metryki projektowania obiektowego s? istotn? cz??ci? ?rodowiska oprogramowania. Niniejsze badanie koncentruje si? na zestawie metryk obiektowych, które mog? byc wykorzystane do pomiaru jako?ci projektu obiektowego, a tak?e analizuje niektóre metryki CK przy u?yciu narz?dzia Understand 2.6.
Show More
List Price $45.00
Your Price
$44.55
