Prace te s? prowadzone przez zespól SIAM (Spectroscopy and Atomic Imaging of Materials) na Uniwersytecie Cadi Ayyad. Polegaj? one na wykorzystaniu techniki SIPS do badania luminescencji próbek Ni, Cr, Ti oraz tlenków NiO i Cr2O3. Cele s? bombardowane jonami Kr+ o energii 5 keV pod k?tem 65 do normalnej, a badany zakres widmowy rozci?ga si? od bliskiego UV do widzialnego. Przeprowadzone przez nas badania mo?na podsumowac w nast?puj?cy sposób: * Demonstracja emisji optycznej z produktów rozpylania trzech metali: niklu, chromu i tytanu oraz ich tlenków, bombardowanych w pró?ni (lepszej ni? 10-7 torr). * Interpretacja wplywu tlenu na widma luminescencji. * Badanie i zastosowanie modelu wymiany elektronów. Oszacowanie powinowactwa elektronowego i przerwy pasmowej tlenków.