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Synchrotron Nanobeam Experimente an Crn Multilayerschichten

AUTHOR Gaitzenauer Andrea
PUBLISHER AV Akademikerverlag (03/01/2012)
PRODUCT TYPE Paperback (Paperback)

Description
In der vorliegenden Arbeit werden Texturgradienten an CrN-Schichten gemessen. Dafur wurden 3 Schichten CrN zu je 5 um mit einer Biasspannung von -40 V, -120V bzw. -40V durch Magnetronsputtern auf ein Stahlsubstrat abgeschieden. Die Textur wird durch direkte und indirekte Polfiguren dargestellt. Das ermoglicht die Berechnung der Orientierungsverteilungsfunktion aus dem am Synchrotron gemessenen Debye-Scherrer-Ringen. Die Auswertung zeigt eine 001 Orientierung an der Grenzschicht zum Substrat. Mit weiterer Entfernung zum Substrat geht die 001 Orientierung in eine 101 Orientierung uber, bis sich in der zweiten CrN-Schicht wieder eine 001/101 Mischorientierung bildet. An der Oberflache findet sich eine 101 Orientierung. Bei den Eigenspannungen zeigen sich uber die gesamte Beschichtung Druckspannungen. Im Bereich der zweiten CrN-Schicht, die mit einer Biasspannung von -120V abgeschieden wurde, andert sich die Eigenspannung sprunghaft. Im gleichen Bereich andert sich die Orientierung zur oben erwahnten Mischorientierung. Untersuchungen der Kristallitform ergaben eine Anderung von Kugelform zu einer Stangelform mit zunehmender Entfernung vom Substrat."
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Product Format
Product Details
ISBN-13: 9783639388985
ISBN-10: 3639388984
Binding: Paperback or Softback (Trade Paperback (Us))
Content Language: German
More Product Details
Page Count: 64
Carton Quantity: 110
Product Dimensions: 6.00 x 0.15 x 9.00 inches
Weight: 0.23 pound(s)
Feature Codes: Illustrated
Country of Origin: US
Subject Information
BISAC Categories
Technology & Engineering | General
Descriptions, Reviews, Etc.
publisher marketing
In der vorliegenden Arbeit werden Texturgradienten an CrN-Schichten gemessen. Dafur wurden 3 Schichten CrN zu je 5 um mit einer Biasspannung von -40 V, -120V bzw. -40V durch Magnetronsputtern auf ein Stahlsubstrat abgeschieden. Die Textur wird durch direkte und indirekte Polfiguren dargestellt. Das ermoglicht die Berechnung der Orientierungsverteilungsfunktion aus dem am Synchrotron gemessenen Debye-Scherrer-Ringen. Die Auswertung zeigt eine 001 Orientierung an der Grenzschicht zum Substrat. Mit weiterer Entfernung zum Substrat geht die 001 Orientierung in eine 101 Orientierung uber, bis sich in der zweiten CrN-Schicht wieder eine 001/101 Mischorientierung bildet. An der Oberflache findet sich eine 101 Orientierung. Bei den Eigenspannungen zeigen sich uber die gesamte Beschichtung Druckspannungen. Im Bereich der zweiten CrN-Schicht, die mit einer Biasspannung von -120V abgeschieden wurde, andert sich die Eigenspannung sprunghaft. Im gleichen Bereich andert sich die Orientierung zur oben erwahnten Mischorientierung. Untersuchungen der Kristallitform ergaben eine Anderung von Kugelform zu einer Stangelform mit zunehmender Entfernung vom Substrat."
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